在5G無(wú)線綜測(cè)儀測(cè)試中，確實(shí)存在一些常見的挑戰(zhàn)，這些挑戰(zhàn)涉及到技術(shù)復(fù)雜性、成本、測(cè)試環(huán)境搭建、信號(hào)失真等多個(gè)方面。以下是對(duì)這些挑戰(zhàn)的詳細(xì)分析：

5G無(wú)線綜測(cè)儀測(cè)試中的常見挑戰(zhàn)

• 復(fù)雜的測(cè)試組件：隨著5G技術(shù)的引入，測(cè)試環(huán)境中需要考慮的天線和頻段數(shù)量大幅增加，這導(dǎo)致了測(cè)試環(huán)境的復(fù)雜性顯著提高。
• 波束成形特性和驗(yàn)證：波束成形技術(shù)的實(shí)現(xiàn)和驗(yàn)證需要精確控制天線元件的相角和增益，這在毫米波頻率下尤其具有挑戰(zhàn)性。
• 更敏感的信號(hào)失真：毫米波收發(fā)機(jī)電路的元器件特性對(duì)通信系統(tǒng)性能有顯著影響，任何制造瑕疵或頻率響應(yīng)突變都可能導(dǎo)致信號(hào)質(zhì)量下降。
• 詳盡的測(cè)試用例：5G支持豐富的物理層功能，需要執(zhí)行更多的測(cè)試用例以確保設(shè)備質(zhì)量，這增加了測(cè)試時(shí)間和成本。
• 更高的測(cè)試成本和更長(zhǎng)的上市時(shí)間：上述挑戰(zhàn)可能導(dǎo)致測(cè)試成本增加和上市時(shí)間延長(zhǎng)，影響生產(chǎn)效率和成本競(jìng)爭(zhēng)力。

克服挑戰(zhàn)的方法

• 選擇合適的OTA測(cè)試箱：根據(jù)天線模塊的尺寸和位置選擇合適的直接遠(yuǎn)場(chǎng)(DFF)或緊縮場(chǎng)(CATR)測(cè)試方法。
• 測(cè)量系統(tǒng)的線性度設(shè)置：確保測(cè)試設(shè)備在所需頻率和調(diào)制帶寬范圍內(nèi)具有良好的線性度，以減少測(cè)量誤差。
• 路徑損耗校準(zhǔn)：通過確定整個(gè)射頻收發(fā)鏈路的損耗/增益來(lái)確保測(cè)量精度和可重復(fù)性。
• 簡(jiǎn)化測(cè)試組件：選擇能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)量相關(guān)性、減少開發(fā)工作量、縮短上市時(shí)間的測(cè)試設(shè)備。
• 優(yōu)化測(cè)試用例：基于待測(cè)物數(shù)量、銷售區(qū)域的頻段需求以及前期研發(fā)階段的大量測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用例，以提高測(cè)試效率。

通過上述方法，可以有效地克服5G無(wú)線綜測(cè)儀測(cè)試中遇到的挑戰(zhàn)，確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和效率。