IV和CV特性測(cè)試：利用參數(shù)分析儀對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行IV（電流-電壓）和CV（電容-電壓）特性測(cè)試，能夠獲得器件的電阻特性、電容特性和晶體管的增益特性，這些數(shù)據(jù)對(duì)于理解器件的工作機(jī)制和性能至關(guān)重要。
工藝參數(shù)測(cè)試：通過(guò)精密的電學(xué)特性測(cè)量，參數(shù)分析儀可以揭示器件的工藝參數(shù)和物理信息，如離子注入濃度、薄膜厚度、線寬和氧化電荷等，這些信息有助于改進(jìn)制造工藝和提高器件性能。
動(dòng)態(tài)性能測(cè)試：參數(shù)分析儀可以測(cè)量器件的動(dòng)態(tài)參數(shù)，如頻率響應(yīng)、增益和相位特性，這對(duì)于高頻應(yīng)用尤為重要。
可靠性測(cè)試：通過(guò)測(cè)試器件在不同溫度和偏置條件下的性能，參數(shù)分析儀有助于評(píng)估器件的長(zhǎng)期可靠性。
故障分析：當(dāng)半導(dǎo)體器件出現(xiàn)故障時(shí)，參數(shù)分析儀可以用于故障分析，通過(guò)測(cè)量故障器件的電參數(shù)來(lái)確定故障原因。
優(yōu)化測(cè)試流程：參數(shù)分析儀的自動(dòng)化測(cè)試功能可以?xún)?yōu)化測(cè)試流程，提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性，從而加快半導(dǎo)體器件的研發(fā)和生產(chǎn)周期。
數(shù)據(jù)采集與分析：自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境中，參數(shù)分析儀通常與測(cè)試機(jī)（ATE）集成，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的自動(dòng)采集和分析，這對(duì)于提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性非常有幫助。
高電壓和大電流測(cè)試：對(duì)于高功率應(yīng)用，參數(shù)分析儀可以進(jìn)行高電壓和大電流測(cè)試，這對(duì)于評(píng)估功率器件的性能至關(guān)重要。
溫度特性測(cè)試：參數(shù)分析儀還可以進(jìn)行溫度特性測(cè)試，這對(duì)于評(píng)估器件在不同溫度下的性能和穩(wěn)定性非常重要。
